Microscopio invertido para aplicaciones de metalografía DM ILM

Descripción

Todas las tareas de control industrial y medición pueden llevarse a cabo de forma rápida y eficiente con el microscopio invertido Leica DM ILM.

La óptica de alto rendimiento ofrece una resolución y contraste nítidos y claros tanto en episcopía, campo claro y contraste de polarización como en fluorescencia.

El sistema Leica DM ILM ha sido diseñado para manipular muestras y objetos de gran tamaño y ahorrar tiempo al realizar controles en serie y ensayos en grandes cantidades de muestras.